在此應用中，殘余應力深度分布是從4毫米軸承球測量的。

問(wèn)題：軸承滾珠上的殘余應力

可以用電化學(xué)方法從表面去除材料，并測量作為深度函數的殘余應力來(lái)研究硬化鋼樣品的次表面特性。

例如檢測?4mm球軸承的殘余應力的深度剖面分布，為了滿(mǎn)足標準 EN 15305無(wú)損檢測標準，一般采用X 射線(xiàn)衍射法進(jìn)行測試，同時(shí)需要選擇0.3毫米準直器來(lái)測量。使用傳統的 X射線(xiàn)衍射設備一般單次測量需要1小時(shí)55分鐘。在殘余應力深度剖面中，通常進(jìn)行4-6次單獨的殘余應力測量，同時(shí)需要在測量中對材料進(jìn)行電解拋光。在三個(gè)方向測量殘余應力時(shí)，測量一個(gè)深度剖面需要34.5小時(shí)。

檢測方法：X射線(xiàn)衍射法

在測量之前，將滾珠固定在帶有化學(xué)金屬環(huán)氧樹(shù)脂填料的鋁塊上，以便保持與鋁塊的導電接觸，并且在深度測量期間鋼球保持靜止。

圖 1. 測量設置：軸承滾珠的殘余應力測量

測量采用XStress DR45和XStress Studio軟件完成。集成2D探測器沿著(zhù)Debye-Scherrer 環(huán)（圖 2），3秒曝光時(shí)間內收集的衍射峰數據如圖3所示。在三個(gè)方向測量殘余應力時(shí)，每個(gè)深度測量點(diǎn)測量時(shí)間為3分鐘，這意味著(zhù)每個(gè)深度剖面測量時(shí)間僅需要18分鐘。測量樣品殘余應力分布如圖4所示。

圖 2：檢測器數據

圖 3：綜合峰

測量結果

圖 4：軸承滾珠上的殘余應力深度分布

此應用所使用的儀器Xstress DR45為最新一代X射線(xiàn)殘余應力分析儀，快速的檢測速度提供了高質(zhì)量測量數據。